半导体应用广泛，相关的试验设备有多种，下面简单介绍下常见半导体试验设备的标准如下：

1.温度循环（冷热冲击试验机）参考标准：JESD22-A

温度范围：-65℃~℃

低温冲击：-40℃，-55℃，-65℃

高温冲击：65℃，85℃，℃

温度冲击时间小于3min，1min

温度保持时间30min，60min

测试时间不能少于个循环

2.热压器/无偏压HAST测试参考标准：JESD22-A

温度范围：℃~℃

湿度范围：70%RH~%RH

压力范围：0.5kg~3.5kg

测试时间不能少于小时，具体根据用户实际要求，有些需要达到小时到小时等不同时间

3.其他测试标准：GB/T.1-1试验A：低温试验方法，试验B：高温试验方法，GJB.3-高温试验，低温试验，GB《高温试验箱技术条件》，IEC-2-14等测试标准。