电子产品双85试验标准一、试验目的本试验标准旨在规定电子产品在双85环境下的耐候性能，以确保产品在极端环境条件下的可靠性和稳定性。双85试验是一种模拟高温高湿、低温低湿和温度循环等环境条件的综合试验，通过检测电子产品在此环境下的性能表现，评估其耐候性能。二、试验标准本试验标准所规定的双85试验条件如下：1.高温高湿：温度85℃±2℃，湿度85%±5%2.低温低湿：温度-40℃±2℃，湿度5%±5%3.温度循环：从高温高湿到低温低湿，温度变化范围为-40℃~85℃，湿度变化范围为5%~85%

三、试验程序1.样品准备：选取代表性样品，确保样品无缺陷、无损伤，并按照相关规定进行标识。2.试验设备：准备好双85试验箱，确保设备运行正常，测量精度符合要求。3.样品放置：将样品放入双85试验箱内，确保样品与试验箱壁保持一定距离，以避免局部温度和湿度过高。4.试验过程：按照设定的试验条件进行高温高湿、低温低湿和温度循环试验，每个条件持续时间不少于24小时。在试验过程中，应每隔一段时间对样品进行检查并记录数据。5.试验结束后取出样品，进行外观检查、性能测试等，并对试验数据进行整理和分析。四、结果判定根据试验数据和相关标准，对电子产品的耐候性能进行判定。如果样品在试验过程中出现失效、性能下降、外观损伤等情况，则判定为不合格。如果样品在试验过程中表现良好，未出现明显缺陷或性能下降，则判定为合格。五、注意事项1.在进行双85试验时，应严格按照试验标准进行操作，确保试验结果的准确性和可靠性。2.试验人员应经过专业培训，熟悉试验程序和操作规程，避免因操作不当导致试验失败或样品损坏。3.在试验过程中，应定期对试验设备进行检查和维护，确保设备正常运行和测量精度。4.如果样品在试验过程中出现异常情况，应立即停止试验并进行分析和处理。