绝缘、护套厚度试验

一

试验设备

读数显微镜或放大倍数至少10倍的投影仪，两种设备的读数均应至0.01mm。如果绝缘厚度0.5mm时，需估读小数点后第三位数。

有争议时，采用读数显微镜测量作为基准方法。

二

试样制备

绝缘试样制备

从绝缘上去除所有护层,抽出导体和隔离层(若有的话)。小心操作以免损坏绝缘,内外半导电层若与绝缘粘连在一起,则不必去掉。

每一试件由一片绝缘薄片组成,应用适当的工具(锋利的刀片如剃刀刀片等)沿着与导体轴线相垂直的平面切取薄片。

无护套扁平软线的线芯不应分开。

如果绝缘上有压印标记凹痕,则会使该处厚度变薄,因此试件应取包含该标记的一段。护套试样制备:

去除护套内、外所有元件(若有的话),用一适当的工具(锋利的刀片如剃刀刀片等)沿垂直于电缆轴线的平面切取薄片。

如果护套上有压印标记凹痕,则会使该处厚度变薄,因此试件应取包含该标记的—段。

注：对执行GB/T、GB/T、JB/T、JB/T、JB/T等标准的产品，应在至少相隔1m的三处各取一段电缆样品。

试样需尽量薄且均匀。

三

绝缘厚度测量试验程序

试样预处理

试样应在温度(23±5)℃环境中至少存放3h后，进行试验。

测试步骤

将试件置于装置的工作面上,切割面与光轴垂直。

a)当试件内侧为圆形时,应按图1径向测量6点。如是扇形绝缘线芯,则按图⒉测量6点;

b)当绝缘是从绞合导体上截取时,应按图3和图4径向测量6点;

c)当试件外表面凹凸不平时,应按图5测量6点;

d)当绝缘内,外均有不可去除的屏蔽层时,屏蔽层厚度应从测量值中减去,当不透明绝缘内、外均有不可除去的屏蔽层时,应使用读数显微镜测量;

e)无护套扁平软线应按图6测量,两导体之间最短距离的一半作为绝缘线芯的绝缘厚度。在任何情况下,第一次测量应在绝缘最薄处进行。

如果绝缘试件包括压印标记凹痕,则该处绝缘厚度不应用来计算平均厚度。但在任何情况下,压印标记凹痕处的绝缘厚度应符合有关电缆产品标准中规定的最小值。

若规定的绝缘厚度为0.5mm及以上时,读数应测量到小数点后两位(以mm计);若规定的绝缘厚度小于0.5mm时,则读数应测量到小数点后三位,第三位为估计数。

四

护套厚度测量试验程序

护套试样预处理

试样应在温度(23±5)℃环境中至少存放3h后，进行试验。

护套测试步骤

将试件置于测量装置工作面上,切割面与光轴垂直。

a）当试件内侧为圆形时,应按图1径向测量6点;

b）如果试件的内圆表面实质上是不规整或不光滑的,则应按图7在护套最薄处径向测量6点;

c）当试件内侧有导体造成很深的凹槽时,应按图8在每个凹槽底部径向测量,当凹槽数目超过6个时,应按b)项进行测量;

d）当因刮胶带或肋条形护套外形引起的护套外表面不规整时,应按图9进行测量;

e）对于有护套的扁平软线,应按图10在与每个绝缘线芯截面的短轴大致平行的方向及长轴上分别测量。但无论如何应在最薄处测量一点;

f）六芯及以下有护套的扁平电缆应按图11进行测量:

—在圆弧形两头沿着横截面的长轴进行测量。

—在扁平的两边,在第一根和最后一根绝缘线芯上测量;如果最薄厚度不在上述几次测量值中,则应增加最薄处及其对面方向上厚度的测量。

上述规定也适用于六芯以上扁平电缆护套厚度的测量,但应增加中间绝缘线芯处或者当绝缘线芯为偶数时取中间两个绝缘线芯之一进行测量。

在任何情况下,应有一次测量在护套最薄处进行。

如果护套试样包括压印标记凹痕,则该处厚度不应用来计算平均厚度。但在任何情况下,压印标记凹痕处的护套厚度应符合有关电缆产品标准中规定的最小值。

五

数据处理

测得的绝缘或护套的厚度值的平均值，修约后作为绝缘或护套厚度的平均值；所有测得数据的最小值，作为绝缘或护套的最小厚度值。

六

试验记录

（1）试样编号，试样规格、型号；

（2）试验日期，预处理环境温度及测试时环境温度；

（3）试样各次厚度测量值；

（4）平均值、最小值结果。

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