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上一期,科明给各位梳理了关于HASTPCT的试验标准中JESD22-A-C、JESD22-AE、JESD22-A、JESD22-A的试验方法,希望能帮助您进一步了解HASTPCT的试验方法。
今天,我们如约而至,继续为各位介绍JESD22-A-E和JESD22-A以及GB/T.40-/IEC-2-66-的试验方法。
01
JESD22-A-E
中文名称:PCT高压蒸煮试验
目的:
该试验方法主要适用于防潮性评估和坚固性试验。将样品置于压力下的冷凝、高湿度环境中,迫使水分进入封装,以暴露脱层和金属化腐蚀等缺陷。该测试用于评估新封装或在材料(如模塑料、芯片钝化)或设计(如芯片/焊盘尺寸)方面发生变化的封装。但是,该测试不应用于层压或胶带封装,即FR4材料、聚酰亚胺胶带或等效材料。
试验仪器:该试验需要一个压力室,能够在规定试验条件的升温和降温过程中保持规定的温度和相对湿度。
试验条件:测试条件包括温度、相对湿度、蒸汽压力和持续时间。
试验持续时间由内部质量要求、JESD47或适用的采购文件规定。该试验通常持续96小时。
注意:对于塑料封装的微电路,众所周知,湿气会降低模塑料的有效玻璃化转变温度。高于有效玻璃化转变温度的应力温度可能导致出现与操作使用无关的失效机制。
02
JESD22-A
中文名称:IC温度、偏置和工作寿命试验
目的:
该测试用于确定偏置条件和温度对固态器件随时间变化的影响。它以加速的方式模拟设备的运行条件,主要用于设备鉴定和可靠性监控。
试验仪器:该试验的执行要求设备能够提供试样将经受的特定应力条件。
试验条件:
试验室温度应保持在特定温度的+/-5℃内,最大电源电压应遵守规格书内的规范;绝对最大额定电压和绝对最大额定结温,一般由制造商根据特定的设备或技术给定。
应力持续时间:由内部质量要求、EA/JESD47或适当的采购文件制定。
应力条件(持续提供):
(1)环境温度
除特殊要求,高温应根据最小结温在℃以下调整;除特殊要求,低温
最大值为-10℃。
(2)工作电压
一般工作电压应为器件规定的最大工作电压。可以使用更高的工作电
压,以便从电压和温度上加速寿命试验,但一定不能超过绝对最大额定
电压。
偏置配置:
包括静态或脉冲应力和动态应力。根据偏置配置、电源电压、输入电压是接地或上升到最大值的选择来确定应力温度,但不高于绝对最大额定结温。器件输出可加负载也可不加负载,以达到特定的输出电平。
HTFB(高温正向偏置试验):
一般用在功率器件、二极管和分立晶体管器件,不用在集成电路。设定在静态或脉冲正向偏压模式。脉冲模式用来验证器件在最大额定电流附近承受的应力。特定的偏置条件应由器件内固体结的最大数量来决定。
HTLO/LTOL(高温工作寿命试验/低温工作寿命试验):
HTOL一般用在逻辑或存储器件;LTOL一般用来寻找热载流子引起的失效,或用来试验存储器件或亚微米尺寸的器件。器件工作在动态工作模式。一般,一些输入参数也许被用来调整控制内部功耗,例如电源电压、时钟频率、输入信号等,这些参数也许工作在特定值之外,但在应力下会产生可预见的和非破坏性的行为。特定的偏置条件应由器件内潜在的最大数量的工作节点确定。
HTRB(高温反向偏置试验):
HTRB用来试验功率器件。器件一般工作在静态测试模式,试验在最大额定击穿电压和/或电流附件器件承受的应力。
HTGB(高温偏置试验):
HTGB一般用在功率器件试验。器件一般工作在静态模式,试验在最大额定氧化物击穿电压附件器件承受的应力。
03
GB/T.40-/IEC-2-66-
中文名称:电工电子产品环境试验第2部分:试验方法Cx:不饱和高压蒸汽的恒定湿热
目的:
GB/T的本部分规定了一种以加速方式评定小型电工电子产品(主要是非气密元件)耐湿热劣化效应的标准试验方法。本试验不适用于评定如腐蚀和变形等外部效应。
试验仪器:试验箱的结构,应符合以下要求。
(1)能产生试验条件规定给出的温度和相对湿度,并维持在给定的压力
值。
(2)在试验期间能提供受控的温度、相对湿度和压力等条件,并能按照
要求的斜率上升或下降到规定的实验条件。
(3)试验箱的温度和湿度能用位于工作空间内的和/或位于能给出相同
结果的其他区域(例如蒸汽发生器)内的敏感装置监测。
注:有关测量工作空间相对湿度的导则见附录C。
(4)在试验开始前可用水蒸气将密闭空间内的空气排出试验箱外。
(5)不允许凝结水滴落在试验样品上。
(6)所用的结构材料不应引起试验样品腐蚀,或使加湿用水的水质劣
化。
温度容差士2℃,是对于考虑测量绝对误差、任何一点的温度波动和工作空间内所有各点之间的温度变化而言的。然而,为使相对湿度的容差维持在规定士5%内,应使工作空间内任何两点之间的温差(在任一瞬间)保持在更窄的范围内。如果该温差大于1.5℃,规定的相对湿度容差就会超差,同时也需要将因试验箱加热器周期性地工作而引起的短时间的温度波动限制到类似值。
试验条件:测试条件包括温度、相对湿度、持续时间和蒸汽压力。
注1:虽然不建议重新开始一项试验,但如果在同一给定温度下,要求试验样品受比Ⅲ栏更长的持续时间,则该试验应按第6章的要求重新开始。这种试验应在前一试验降温阶段终结后的96h内重新开始。除非相关规范另有规定,在各试验的间隔期,应将试验样品保持在测量和试验用标准大条件下。
注2:在规定的试验条件下,试验持续时间不包括升、降温阶段需要的附加时间、清洗试验箱的时间和准备时间。
(1)试验箱工作空间的温度容差为士2℃;
(2)试验箱工作空间的湿度容差为士5%;
(3)试验持续时间的容差为0h~2h。
以上是关于HASTPCT的试验标准JESD22-A-E、JESD22-A、GB/T.40-/IEC-2-66-的试验方法介绍,希望能帮助广大客户朋友进一步了解HASTPCT的试验方法。科明高压加速老化试验箱HASTPCT系列能满足JESD、GB/T、IEC等相关试验标准,并有1.0~3.0PULS四种型号可供选择,可满足广大客户朋友的试验需求。
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