高低温试验测试GB/T

高低温试验测试是用来确定产品在高温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性的方法。高低温试验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时间。

高低温放置试验顾名思义即为高温贮存和低温贮存试验。全民检测高低温试验依据按照GB/T.1和GB/T.2标准进行试验。

高温贮存试验：电子设备搁置在温度试验箱中，设备处于断电状态，高温贮存结束后，进行通电测试；

低温贮存试验：电子设备搁置在温度试验箱中，设备处于断电状态，低温贮存结束后，进行通电测试。

高低温试验测试流程：

　　1、在样品断电的状态下，先将温度下降到-50°C，保持4个小时;

　　请勿在样品通电的状态下进行低温测试，非常重要，因为通电状态下，芯片本身就会产生+20°C以上温度，所以，在通电状态下，通常比较容易通过低温测试，必须先将其“冻透”，再次通电进行测试。

　　2、开机，对样品进行性能测试，对比性能与常温相比是否正常。

　　3、进行老化测试，观察是否有数据对比错误。

　　4、升温到+90°C，保持4个小时，与低温测试相反，升温过程不断电，保持芯片内部的温度一直处于高温状态，4个小时后，执行2、3、4测试步骤。

　　5、高温和低温测试分别重复10次。

　　如果测试过程出现任何一次不能正常工作的状态，则视为测试失败。

高低温试验参考标准：

　　GB/T.1-试验A：低温试验方法

　　GB/T.2-试验B：高温试验方法

　　GB/T.22-试验N：温度变化试验方法

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