PCT高压加速老化试验箱测试光学器件高压加速老化试验箱

PCT高压蒸煮老化试验箱

PCT高压加速老化试验箱可以用于测试光学器件的耐湿热性能、耐电化学腐蚀性能和耐压性能。光学器件通常需要在各种恶劣环境下工作，如高温高湿、高压等，因此，对光学器件进行PCT测试可以评估其在这些环境下的稳定性和可靠性。在PCT测试中，光学器件将被放置在试验箱中，暴露在高温高湿的环境中，同时施加高压。这样可以模拟实际使用中可能遇到的极端条件，如高温潮湿的气候、潮湿的工作环境等。通过观察和测量光学器件的性能变化，可以评估其在这些条件下的稳定性和可靠性。

具体的测试项目包括但不限于：光学器件的透光性能、折射率、色散性能、表面质量、耐腐蚀性能等。测试结果可以用于指导产品设计和生产过程的改进，以提高光学器件的质量和可靠性，确保其在恶劣环境中的工作性能和寿命。

一、设备用途：

适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性，气密性。测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

二、设备特点：

1.采用进口耐高温电磁阀双路结构，在最大程度上降低了使用故障率。

2.独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏。

3.门锁省力结构，解决第一代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。

4.试验前排冷空气；试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性.

5.超长效实验运转时间，长时间实验机台运转小时.

6.水位保护，透过试验室内水位Sensor检知保护.

7.耐压设计，箱体耐压力(℃)2.65kg，符合水压测试6kg.

8.二段式压力安全保护装置，采两段式结合控制器与机械式压力保护装置.

9.安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮

10.全触控式控制器，支持U盘导出历史记录

三、主要技术参数：

设备型号：HE-PCT-HE-PCT-HE-PCT-

圆形内箱尺寸：直径Φ×深（mm）直径Φ×深（mm）直径Φ×深（mm）

温度范围：+℃～+℃(饱和蒸气温度)

湿度范围：%饱和蒸气湿度

使用压力：0.5Kg～2.5Kg/cm2（内桶设计耐压4Kg/cm2）

时间范围：Hr～Hr

加压时间：0.00Kg～1.04Kg/cm2约45分内

控制器：PLC可程式彩色触摸屏控制

内桶材质：SUS#不锈钢板

外箱材质：SECC冷钢板高温烤漆处理

使用电源：单相V20A50/60Hz

水质要求：纯水或蒸馏水（用户自备）

PCT高温高压试验箱

PCT高压加速老化试验箱测试光学器件具有以下好处：1.评估光学器件在恶劣环境下的稳定性和可靠性：PCT测试可以模拟光学器件在高温高湿、高压等恶劣环境下的工作情况，通过测试可以评估器件在这些条件下的稳定性和可靠性。这有助于发现潜在的问题和缺陷，提前进行改进和优化，确保器件在实际使用中能够正常工作。

2.提高产品质量和可靠性：通过PCT测试，可以发现光学器件在极端环境下的性能变化和劣化情况，从而评估其使用寿命和可靠性。这有助于改善产品设计和生产工艺，提高器件的质量和可靠性，减少故障率，提高客户满意度。

3.减少产品开发周期和成本：通过PCT测试，可以在产品设计和开发的早期阶段发现潜在问题和缺陷，及时进行改进和优化。这可以减少后期的故障修复和产品改进工作，从而缩短产品开发周期，降低成本。

4.符合产品标准和法规要求：PCT测试是许多行业和产品标准的要求之一，例如光学器件在航空航天、汽车、通信等领域的应用，往往需要通过PCT测试来验证其性能和可靠性。通过进行PCT测试，可以确保产品符合相关标准和法规的要求，满足市场的需求和认可。

总之，PCT高压加速老化试验箱测试光学器件能够评估其在恶劣环境下的稳定性和可靠性，提高产品质量和可靠性，减少开发周期和成本，并满足产品标准和法规要求。

PCT高压蒸煮仪

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