设备名称：电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP-AES）
生产厂家：美国PerkinElmer公司（简称PE公司）
技术参数：
1.进样系统：除常规进样系统外标配耐HF酸进样系统；矿物样品中主要成分的高精密度分析，1%以上含量的成分，6次分析RSD优于0.5%；
2.性能指标：分辨率指标如表1：
表1：
精密度（重复测量10次的相对标准偏差百分数，RSD%）见表2：
表2
2.1.高精密度分析：以实时内标法分析As、Zn、Mn、La、Ba元素10次，这5个元素中的每个元素的测量RSD都小于0.1%。
2.2分析元素范围：70余种金属与非金属元素
2.3波长范围：-nm
2.4分析速度：个样品/小时以上，每个样品中包含不少于40个元素；
应用范围：金属材料、矿石、合金、食品、化工材料、环境样品、生物样品、其他类（如煤炭、焦炭、化妆品等）
样品要求：液态
仪器介绍：电感耦合等离子体原子发射光谱仪（简称ICP-OES），可分析70种化学元素，主要用于金属和非金属材料中元素的分析，检测含量范围可达到PPm级，广泛应用钢铁及铸造、环保检测、医疗、化工能源等行业的分析检测及研发，可对待测样品进行定性、定量分析。
设备名称：原子吸收光谱仪（AAS）
生产厂家：美国PerkinElmer公司（简称美国PE公司）
设备名称：X射线荧光光谱仪
生产厂家：日本Rigaku公司
技术参数：1X光源系统
1.1X-射线发生器
输出功率：≧4KW；最大电流：不低于mA；最大电压：不低于60kV
稳定度：对外电路波动1％时，稳定度为±0.%
2光学系统
2.1滤光片：配有4块以上滤光片。
2.2光学狭缝：配置轻元素分析、重元素分析用标准狭缝和高分辨率狭缝。
3测角仪系统
3.1θ/2θ两轴独立驱动测角仪：角度停止再现精度1/°以内。
3.2分析晶体：配置LiF、PET、Ge、LiF、O到Mg元素等5块以上分析晶体，满足从O到U所有元素的测试。
4探测器系统：
4.1高计数率探测器
重元素用：SC闪烁计数管，记数线性kcps轻元素用：F-PC流气比例计数管，记数线性0kcps
自动衰减器系统：IN-OUT自动切换(衰减率1/10)
应用范围：可用于金属材料、矿物、土壤、化工等样品常量和痕量的定量分析，具有快速方便、制样简单、无损检测、分析元素宽、灵敏度高等优点。
样品要求：固体、粉末、不规则样品
仪器介绍：X-射线荧光光谱仪配套所必须的电源设备、冷却循环水设备和前处理熔样机等。X-射线荧光光谱仪分析技术制样简单、分析快速方便、应用广泛，可用于测定钢铁、岩石、矿物等在内的各种样品的化学元素，分析元素范围从O到U，最常见的是用于主量元素分析，如Mn、Cu、Si、Al、K、Na、Ti、P等元素。
设备名称：电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）
生产厂家：美国PerkinElmer公司（简称PE公司）
技术参数：
1.线性动态范围：系统的线性动态范围至少12个数量级，数据偏离线性不超过5%；
2.背景稳定性：amu处背景信号的平均值，低于1.0cps；
3.双电荷离子：Ce++/Ce+3%；
4.氧化物离子：CeO+/Ce+2.5%；
5.短期精密度：2%RSD；
6.长期稳定性：4小时稳定性4%RSD；
7检出限：Li1.0ppt；In0.5ppt；Bi0.5ppt；
8.灵敏度：59Co60Mcps/ppm，InMcps/ppm，UMcps/ppm
9.同位素比精密度：Ag/Ag，0.08%RSD；
10.交叉污染与记忆效应：元素在30秒内清洗,使信号降低到原来信号的0.1%以下；
应用范围：金属材料、矿石、合金、食品、化工材料、环境样品、生物样品、其他类（如煤炭、焦炭、化妆品等）
样品要求：液态
仪器介绍：电感耦合等离子体质谱（简称ICP-MS），可分析70种化学元素，主要用于金属和非金属材料中元素的痕量分析，检测含量范围可达到ppb级，广泛应用钢铁及铸造、环保检测、食品、医疗、化工能源等行业的分析检测及研发，可对待测样品进行定性、定量分析。
设备名称：氢分析仪
生产厂家：日本崛场
设备名称：氧氮联合测定仪
生产厂家：日本崛场
设备名称：高频红外碳硫分析仪
生产厂家：日本崛场
设备名称：火花直读光谱仪
生产厂家：美国赛默飞世尔科技公司
设备名称：周期浸润腐蚀试验机
